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Rohde & Schwarz

Signalmodellbasierter Ansatz zur gemeinsamen Zerlegung von Jitter und Rauschen

Dieser Inhalt wurde von Rohde & Schwarz veröffentlicht

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In diesem Whitepaper stellt Rohde & Schwarz ein gemeinsames Framework zur Jitter- und Rauschanalyse für die serielle PAM-Übertragung vor, das auf einem parametrischen Signalmodell basiert. Der Ansatz hat mehrere Vorteile gegenüber anderen State-of-the-Art-Methoden.

Die Identifizierung von Jitter- und Rauschquellen ist entscheidend für die Fehlersuche bei der Übertragung von seriellen Hochgeschwindigkeitssignalen. Da immer höhere Datenraten mit immer geringeren Jitter-Budgets und Rauschspannen einhergehen, bleibt das Management von Jitter- und Rauschquellen ein kritischer Punkt für Ingenieure. Die Methoden zur Zerlegung von Jitter sind in den letzten 20 Jahren erheblich gereift; sie basieren jedoch meist nur auf Time Interval Error (TIE)-Messungen. Diese TIE-orientierte Sichtweise verwirft einen erheblichen Teil der im Eingangssignal vorhandenen Informationen und schränkt somit die Zerlegungsgenauigkeit ein.

Entdecken Sie in diesem Whitepaper von Rohde & Schwarz beispielhafte Messergebnisse sowie Vergleiche mit anderen Methoden.

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Analog, Operationsverstärker, Instrumenten-/Präzisions-Operationsverstärker, ADC und DAC, Komparatoren, Design-Tools und Simulation, Components, Kondensatoren, Widerstände, SMD passive Bauelemente, Transformatoren, Induktoren, PCB-Substrat-Technologie, Stecker, Switches

 

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